Atoum, B. Al.
Normalized to: Atoum, B.
1 article(s) in total. 359 co-authors, from 1 to 2 common article(s). Median position in authors list is 7,0.
[1]
oai:arXiv.org:1909.01530 [pdf] - 1994169
Efficient propagation of systematic uncertainties from calibration to
analysis with the SnowStorm method in IceCube
Aartsen, M. G.;
Ackermann, M.;
Adams, J.;
Aguilar, J. A.;
Ahlers, M.;
Ahrens, M.;
Atoum, B. Al.;
Alispach, C.;
Andeen, K.;
Anderson, T.;
Ansseau, I.;
Anton, G.;
Argüelles, C.;
Auffenberg, J.;
Axani, S.;
Backes, P.;
Bagherpour, H.;
Bai, X.;
V., A. Balagopal;
Barbano, A.;
Barwick, S. W.;
Bastian, B.;
Baum, V.;
Baur, S.;
Bay, R.;
Beatty, J. J.;
Becker, K. -H.;
Tjus, J. Becker;
BenZvi, S.;
Berley, D.;
Bernardini, E.;
Besson, D. Z.;
Binder, G.;
Bindig, D.;
Blaufuss, E.;
Blot, S.;
Bohm, C.;
Börner, M.;
Böser, S.;
Botner, O.;
Böttcher, J.;
Bourbeau, E.;
Bourbeau, J.;
Bradascio, F.;
Braun, J.;
Bron, S.;
Brostean-Kaiser, J.;
Burgman, A.;
Buscher, J.;
Busse, R. S.;
Carver, T.;
Chen, C.;
Cheung, E.;
Chirkin, D.;
Choi, S.;
Clark, K.;
Classen, L.;
Coleman, A.;
Collin, G. H.;
Conrad, J. M.;
Coppin, P.;
Correa, P.;
Cowen, D. F.;
Cross, R.;
Dave, P.;
De Clercq, C.;
DeLaunay, J. J.;
Dembinski, H.;
Deoskar, K.;
De Ridder, S.;
Desiati, P.;
de Vries, K. D.;
de Wasseige, G.;
de With, M.;
DeYoung, T.;
Diaz, A.;
Díaz-Vélez, J. C.;
Dujmovic, H.;
Dunkman, M.;
Dvorak, E.;
Eberhardt, B.;
Ehrhardt, T.;
Eller, P.;
Engel, R.;
Evenson, P. A.;
Fahey, S.;
Fazely, A. R.;
Felde, J.;
Filimonov, K.;
Finley, C.;
Fox, D.;
Franckowiak, A.;
Friedman, E.;
Fritz, A.;
Gaisser, T. K.;
Gallagher, J.;
Ganster, E.;
Garrappa, S.;
Gerhardt, L.;
Ghorbani, K.;
Glauch, T.;
Glüsenkamp, T.;
Goldschmidt, A.;
Gonzalez, J. G.;
Grant, D.;
Griffith, Z.;
Griswold, S.;
Günder, M.;
Gündüz, M.;
Haack, C.;
Hallgren, A.;
Halve, L.;
Halzen, F.;
Hanson, K.;
Haungs, A.;
Hebecker, D.;
Heereman, D.;
Heix, P.;
Helbing, K.;
Hellauer, R.;
Henningsen, F.;
Hickford, S.;
Hignight, J.;
Hill, G. C.;
Hoffman, K. D.;
Hoffmann, R.;
Hoinka, T.;
Hokanson-Fasig, B.;
Hoshina, K.;
Huang, F.;
Huber, M.;
Huber, T.;
Hultqvist, K.;
Hünnefeld, M.;
Hussain, R.;
In, S.;
Iovine, N.;
Ishihara, A.;
Japaridze, G. S.;
Jeong, M.;
Jero, K.;
Jones, B. J. P.;
Jonske, F.;
Joppe, R.;
Kang, D.;
Kang, W.;
Kappes, A.;
Kappesser, D.;
Karg, T.;
Karl, M.;
Karle, A.;
Katz, U.;
Kauer, M.;
Kelley, J. L.;
Kheirandish, A.;
Kim, J.;
Kintscher, T.;
Kiryluk, J.;
Kittler, T.;
Klein, S. R.;
Koirala, R.;
Kolanoski, H.;
Köpke, L.;
Kopper, C.;
Kopper, S.;
Koskinen, D. J.;
Kowalski, M.;
Krings, K.;
Krückl, G.;
Kulacz, N.;
Kurahashi, N.;
Kyriacou, A.;
Labare, M.;
Lanfranchi, J. L.;
Larson, M. J.;
Lauber, F.;
Lazar, J. P.;
Leonard, K.;
Leszczyńska, A.;
Leuermann, M.;
Liu, Q. R.;
Lohfink, E.;
Mariscal, C. J. Lozano;
Lu, L.;
Lucarelli, F.;
Lünemann, J.;
Luszczak, W.;
Lyu, Y.;
Ma, W. Y.;
Madsen, J.;
Maggi, G.;
Mahn, K. B. M.;
Makino, Y.;
Mallik, P.;
Mallot, K.;
Mancina, S.;
Mariş, I. C.;
Maruyama, R.;
Mase, K.;
Maunu, R.;
McNally, F.;
Meagher, K.;
Medici, M.;
Medina, A.;
Meier, M.;
Meighen-Berger, S.;
Menne, T.;
Merino, G.;
Meures, T.;
Micallef, J.;
Mockler, D.;
Momenté, G.;
Montaruli, T.;
Moore, R. W.;
Morse, R.;
Moulai, M.;
Muth, P.;
Nagai, R.;
Naumann, U.;
Neer, G.;
Niederhausen, H.;
Nisa, M. U.;
Nowicki, S. C.;
Nygren, D. R.;
Pollmann, A. Obertacke;
Oehler, M.;
Olivas, A.;
O'Murchadha, A.;
O'Sullivan, E.;
Palczewski, T.;
Pandya, H.;
Pankova, D. V.;
Park, N.;
Peiffer, P.;
Heros, C. Pérez de los;
Philippen, S.;
Pieloth, D.;
Pinat, E.;
Pizzuto, A.;
Plum, M.;
Porcelli, A.;
Price, P. B.;
Przybylski, G. T.;
Raab, C.;
Raissi, A.;
Rameez, M.;
Rauch, L.;
Rawlins, K.;
Rea, I. C.;
Reimann, R.;
Relethford, B.;
Renschler, M.;
Renzi, G.;
Resconi, E.;
Rhode, W.;
Richman, M.;
Robertson, S.;
Rongen, M.;
Rott, C.;
Ruhe, T.;
Ryckbosch, D.;
Rysewyk, D.;
Safa, I.;
Herrera, S. E. Sanchez;
Sandrock, A.;
Sandroos, J.;
Santander, M.;
Sarkar, S.;
Sarkar, S.;
Satalecka, K.;
Schaufel, M.;
Schieler, H.;
Schlunder, P.;
Schmidt, T.;
Schneider, A.;
Schneider, J.;
Schröder, F. G.;
Schumacher, L.;
Sclafani, S.;
Seckel, D.;
Seunarine, S.;
Shefali, S.;
Silva, M.;
Snihur, R.;
Soedingrekso, J.;
Soldin, D.;
Song, M.;
Spiczak, G. M.;
Spiering, C.;
Stachurska, J.;
Stamatikos, M.;
Stanev, T.;
Stein, R.;
Steinmüller, P.;
Stettner, J.;
Steuer, A.;
Stezelberger, T.;
Stokstad, R. G.;
Stößl, A.;
Strotjohann, N. L.;
Stürwald, T.;
Stuttard, T.;
Sullivan, G. W.;
Taboada, I.;
Tenholt, F.;
Ter-Antonyan, S.;
Terliuk, A.;
Tilav, S.;
Tollefson, K.;
Tomankova, L.;
Tönnis, C.;
Toscano, S.;
Tosi, D.;
Trettin, A.;
Tselengidou, M.;
Tung, C. F.;
Turcati, A.;
Turcotte, R.;
Turley, C. F.;
Ty, B.;
Unger, E.;
Elorrieta, M. A. Unland;
Usner, M.;
Vandenbroucke, J.;
Van Driessche, W.;
van Eijk, D.;
van Eijndhoven, N.;
Vanheule, S.;
van Santen, J.;
Vraeghe, M.;
Walck, C.;
Wallace, A.;
Wallraff, M.;
Wandkowsky, N.;
Watson, T. B.;
Weaver, C.;
Weindl, A.;
Weiss, M. J.;
Weldert, J.;
Wendt, C.;
Werthebach, J.;
Whelan, B. J.;
Whitehorn, N.;
Wiebe, K.;
Wiebusch, C. H.;
Wille, L.;
Williams, D. R.;
Wills, L.;
Wolf, M.;
Wood, J.;
Wood, T. R.;
Woschnagg, K.;
Wrede, G.;
Xu, D. L.;
Xu, X. W.;
Xu, Y.;
Yanez, J. P.;
Yodh, G.;
Yoshida, S.;
Yuan, T.;
Zöcklein, M.
Submitted: 2019-09-03
Efficient treatment of systematic uncertainties that depend on a large number
of nuisance parameters is a persistent difficulty in particle physics
experiments. Where low-level effects are not amenable to simple
parameterization or re-weighting, analyses often rely on discrete simulation
sets to quantify the effects of nuisance parameters on key analysis
observables. Such methods may become computationally untenable for analyses
requiring high statistics Monte Carlo with a large number of nuisance degrees
of freedom, especially in cases where these degrees of freedom parameterize the
shape of a continuous distribution. In this paper we present a method for
treating systematic uncertainties in a computationally efficient and
comprehensive manner using a single simulation set with multiple and
continuously varied nuisance parameters. This method is demonstrated for the
case of the depth-dependent effective dust distribution within the IceCube
Neutrino Telescope.
